Полное описание

ODM/180
Data modeling for metrology and testing in measurement science / eds. F. Pavese, A.B. Forbes. - Электрон. текстовые дан. - Boston, Ma [etc.] : Birkhauser, 2009. - 1 электрон. опт. диск (CD-ROM). - (Modeling and simulation in science, engineering and technology). - Систем. требования: операц. система Microsoft Windows 2000/ХР/Vista ; процессор Pentium 700 Мгц ; 512 Мб оператив. памяти ; мышь. - Загл. с этикетки диска. - .
Издание является приложением к документу:
Data modeling for metrology and testing in measurement science. -2009. Шифр J2/27845

ГРНТИ	УДК
90.03	006.91(086.82)

Рубрики:
Метрология

Доп. точки доступа:
Pavese, F.\ed.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ПНТ (1)
Свободны: ПНТ (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽