Полное описание
>
Eismann, G. Spurenanalyse in YAG-Rohstoffen mit Atomemissionsspektrometrie : Grundlagen und Anwendung:Diss:Mfiche / G.Eismann. - Hannover : [s. n.], 1991. - 163 мкфш. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:c.144-163
ГРНТИ | УДК | |
47.09.47 | 621.373.826.038.825(043) | |
543.423(043) |
Рубрики:
Лазеры твердотельные -- Материалы
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (1), (1)
Свободны: ХРЦ (1), (1)
Заказ фрагмента документа ₽