• ВХОД
  •  

    Полное описание

    MF-92-15994
    Eismann, G. Spurenanalyse in YAG-Rohstoffen mit Atomemissionsspektrometrie : Grundlagen und Anwendung:Diss:Mfiche / G.Eismann. - Hannover : [s. n.], 1991. - 163 мкфш. : Ill. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:c.144-163
    ГРНТИ УДК
    47.09.47621.373.826.038.825(043)
    543.423(043)

    Рубрики:
    Лазеры твердотельные -- Материалы
    Экз-ры полностью MF-92-15994
    Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (1), (1)
    Свободны: ХРЦ (1), (1)



    Заказ фрагмента документа ₽