Полное описание
>
Nagashima, K. Electron temperature profile measurement using the filter absorption method in JT-60 : mfiche(1) / K.Nagashima,T.Nishitani,H.Takeuchi. - Tokyo : [s. n.], 1990. - 26 мкфш. : ill. - (Reports / Japan atomic energy research inst. ; m-89-226). - 0.50 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.12
ГРНТИ | УДК | |
29.27.49 | 621.039.66(086.2) |
Рубрики:
Плазма -- Методы исследования
Кл.слова (ненормированные): плазма
Доп. точки доступа:
Nishitani, T.
Takeuchi, H.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (1), (1)
Свободны: ХРЦ (1), (1)
Заказ фрагмента документа ₽