Полное описание

J2/28256
Mikla, V. I. Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors / V. I. Mikla, V. V. Mikla. - London [etc.] : Elsevier , 2010. - VI, 120 p. : ill. - (Elsevier insights). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-0-12-384715-7 : 5190.00 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Полупроводники аморфные -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования

Доп. точки доступа:
Mikla, V. V.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽