Полное описание

J2/28215
Leach, R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach. - Oxford [etc.] : William Andrew: Elsevier, 2010. - XXVI, 321 p. : ill. - (Micro & nano technologies series). - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 317-321. - ISBN 978-0-08-096454-6 : 5160.00 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
90.01	006.91-022.532

Рубрики:
Нанометрология

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ПНТ (1), (1)
Свободны: ПНТ (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽