Полное описание

J2/27938
Fultz, B. Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / B. Fultz, J. M. Howe. - 3rd ed. - Berlin[etc.] : Springer, 2008. - XIX, 758 p. : ill. - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 745-758. - ISBN 978-3-540-73885-5 : 5465.08 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.09	620.22

Рубрики:
Материалы -- Методы исследования

Доп. точки доступа:
Howe, J. M.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽