Полное описание

J2/27791
Alford, T. L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2007. - XIV, 336 p. : ill. - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 330-336 . - ISBN 978-0-387-29260-1 : 2728.63 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19	539.216.2-022.532

Рубрики:
Пленки -- Методы исследования

Доп. точки доступа:
Feldman, L. C.
Mayer, J. W.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽