Полное описание

J2/27788
Chiang, C. Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS / C. Chiang, J. Kawa. - Dordrecht [etc.] : Springer, 2007. - XXVII, 254 p. : ill. - (Series on integrated circuits and systems / ed. A. Chandrakasan). - Библиогр.: с. 243-251 (130 назв.). Указ.: с. 253-254. - ISBN 978-1-4020-5187-6 : 3648.35 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.14.07	621.3.049.77.001.2

Рубрики:
Интегральные схемы -- Проектирование

Доп. точки доступа:
Kawa, J.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽