Полное описание

J2/27705
Tehranipoor, M. Nanometer technology designs. High-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2008. - XVII, 281 p. : ill. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 277-281. - ISBN 978-0-387-76486-3 : 3762.05 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.13	620.3

Рубрики:
Нанотехнологии

Доп. точки доступа:
Ahmed, N.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽