Полное описание

J2/27531
Egerton, R. F. Physical principles of electron microscopy. An introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2005. - XII, 202 p. : ill. - Библиогр.: с. 195-196. Указ.: с. 197-202. - ISBN 0-387-25800-0 : 2739.06 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽