Полное описание

J2/27428
Foster, A. Scanning probe microscopy. Atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer. - New York, NY [etc.] : Springer, 2006. - XIV, 281 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 279-281. - ISBN 0-387-40090-7 : 3994.39 р. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Hofer, W.

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
Свободны: ХР (1), (1)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽