Полное описание

J2/25468
Wilson, R. G. Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysisКсерокопия / R.G.Wilson,F.A.Stevie,C.W.Magee. - New York, NY : Wiley, 1989. - Pag.var. : ill.(2 корешка). - ISBN 0-471-51945-6 : 10200 р. - Текст : непосредственный.
Указ.в конце книги

ГРНТИ	УДК
31.19	543.51(03)

Рубрики:
Масс-спектрометрия -- Справочники

Доп. точки доступа:
Stevie, F.A.
Magee, C.W.

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽