Полное описание

J2/22705
Jong, A. F.de Image interpretation for transmission electron microscoopy of thin semiconductor layers and interfaces : diss. / A.F.de Jong. - Delft : [s. n.], 1990. - 185 p. : ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце гл.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:620.186(043)
	537.311.322:539.216.2(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Кл.слова (ненормированные): полупроводник
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽