Полное описание

J2/21858
Ouwerling, G. J.L. Nondestructive one- and two-dimensional doping profiling by inverse methods : diss. / G.J.L.Ouwerling. - Delft : [s. n.], 1989. - 193 p. : ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:c.165-183

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382:620.179(043)

Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Дефектоскопия

Кл.слова (ненормированные): полупроводниковый прибор
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽