Полное описание

G2/21084
Yu, X. Untersuchungen zum Einfluss von mechanischem Stress auf die Migration in Metallisierungsstrukturen integrierter Schaltungen : Diss. / X.Yu. - Hannover : [s. n.], 2000. - X, 91 S. 91 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.87-91

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77-047.84:621.793(043)

Рубрики:
Интегральные схемы -- Металлизация

Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽