Полное описание
>
Kottmann, A. K. Elektronische Struktur und Mikrostruktur von Hoch-Tc Supraleitern mittels Rontgenemissions-Spektroskopie und Diffraktometrie : Diss. / A.K.Kottmann. - Stuttgart : [s. n.], 1994. - 178 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.170-178
ГРНТИ | УДК | |
29.19.29 | 538.945(043) |
Рубрики:
Сверхпроводники -- Методы исследования
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽