Полное описание
>
Kesel, F. R. Selbsttest von nicht-regularen CMOS-Schaltungen in sicherheitskritischen Anwendungen : Diss. / F.R.Kesel. - Hannover : [s. n.], 1994. - 132 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.117-123
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.771.14.001.4(043) |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽