Полное описание
>
Palm, J. Lokale Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in Silizium : Diss. / J.Palm. - K@:oln : [s. n.], 1993. - 117 S. : Ill. - 50 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-117
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:548.4(043) | |
537.311.322:537(043) |
Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽