Полное описание

G2/18326
Palm, J. Lokale Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in Silizium : Diss. / J.Palm. - K@:oln : [s. n.], 1993. - 117 S. : Ill. - 50 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-117

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)
	537.311.322:537(043)

Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽