Полное описание

G2/17616
Lee, G. Y. Untersuchungen tiefer Haftstellen an Grenzflachen von Feldeffekttransistoren : Diss. / G.Y.Lee. - Hannover : [s. n.], 1992. - 127 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.116-121

ГРНТИ	УДК
47.33	621.382.323(043)

Рубрики:
Транзисторы полевые

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽