Полное описание
>
Voss, E. Untersuchungen ultradunner Vanadium-und Palladium-Schichten auf W [110] mit LEED, AES, TDS und CPD : Diss. / E.Voss. - K@:oln : [s. n.], 1991. - 64 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 61-64
Перевод заглавия: Исследование сверхтонких ванадиевых и палладиевых пленок на W[110] с LEED, AES, TDS и CPD
ГРНТИ | УДК | |
53.49.15 | 669.017:539.216.2(043) |
Рубрики:
Ванадиевые пленки
Палладиевые пленки
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽