Полное описание
>
Zollner, S. Ellipsometrische Untersuchungen an Halbleitern und Halbleiteroberflachen mit Folgerungen zum Mechanismus des elektronischen Transports heisser Ladungstrager : Diss. / S.Zollner. - Stuttgart : [s. n.], 1991. - 373 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.326-350
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322(043) |
Рубрики:
Полупроводники
Кл.слова (ненормированные): полупроводник>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽