Полное описание

G2/16656
Eckstein, M. Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden : Diss. / M.Eckstein. - Stuttgart : [s. n.], 1990. - 144 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.136-141

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽