Полное описание
>
Eckstein, M. Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden : Diss. / M.Eckstein. - Stuttgart : [s. n.], 1990. - 144 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.136-141
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:548.4(043) |
Рубрики:
Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказ фрагмента документа ₽