Полное описание

Mikla, V. I. Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors / V. I. Mikla, V. V. Mikla. - London [etc.] : Elsevier , 2010. - VI, 120 p. : ill. - (Elsevier insights). - Библиогр. в конце разд. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4

Рубрики:
Полупроводники аморфные -- Кристаллы -- Дефекты -- Методы исследования

Доп. точки доступа:
Mikla, V. V.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28256)

Шифр в сводном ЭК: 9f59ada890a755f295a73359cbc24446

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽