Полное описание

Genzel, C. Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur rontgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflachenbereich vielkristalliner Werkstoffe / C.Genzel. - Berlin : [s. n.], 1999. - XIII,232 S. S. : Ill. - (Berichte / Hahn-Meitner-Inst. ; B 569). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.213-232

ГРНТИ	УДК
81.09.81	620.179.152.1(043)

Рубрики:
Напряжения (мех.) остаточные -- Рентгенография

Кл.слова (ненормированные): ОСТАТОЧНОЕ НАПРЯЖЕНИЕ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/3812/B 569)

Шифр в сводном ЭК: 96eb4ed701eca7655aab72bb54accb7c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽