• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Emerging nanotechnologies : test, defect tolerance, and reliability / ed. M. Tehranipoor ; ed.: M. Tehranipoor. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media LLC, 2008. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 37). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7. - ISBN 978-0-387-74747-7. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.13.11620.3

    Рубрики:
    Нанотехнологии

    Доп. точки доступа:
    Tehranipoor, M.\ed.\
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 620.3/E50-911762)

    Шифр в сводном ЭК: 8f08c4df28fd53e9a9ebef8f7a5084d9



    Просмотр издания