Полное описание

Исследование локализованных уровней в полуизоляторах с помощью комбинированных измерений термически активированной омической проводимости и проводимости, ограниченной пространственным зарядом / Ин-т сверхтвердых материалов. - 27 с. : ил. - Пер.ст. Study of Localized levels in Semi-Insulators by Combined Measurements of Thermally Activated Ohmic and Space-Charge-Limited Conduction / G. G. Roberts, Schidlin из журн.: // Physical Review. - 1969. - Vol. 180, N 3. - P.785-794. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:18 назв.
ГРНТИ 45.09.37

Рубрики:
Диэлектрики

Доп. точки доступа:
Roberts, G. G.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 06925002095)

Шифр в сводном ЭК: 8ef2b92fa7d45ad90de571c7ffa28535

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽