Полное описание

Richter, R. Mikrocharakterisierung und-strukturierung von GaAs(100)-Oberflachen und deren Metallisierungen / R.Richter. - Dusseldorf : VDI, 1991. - VII,154 S. S. : Ill. - (Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 21, Elektrotechnik / Verein Dt.Ing. ; N84). - ISBN 3-18-148421-0. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.138-154

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592(043)

Рубрики:
Полупроводники -- Методы исследования

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Q/5459/84)

Шифр в сводном ЭК: 88d19711471fdc245c986f6c7bb797e8

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽