Полное описание

Sachdev, M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2007. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 34). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2. - ISBN 0-387-46547-2. - Текст : электронный.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14-048.24

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Технический контроль

Доп. точки доступа:
Gyvez, J.P.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 621.3.049.771.14-/S11-585647)

Шифр в сводном ЭК: 6f8d153a128fb9f32cb111190c35fae4

Просмотр издания