Полное описание

Zipfl, P. Untersuchungen des Isolationsverhaltens von SF6 und SF6/N2-Gemischen bei Beanspruchung durch hochfrequent oszillierende Stossspannungen unter Verwendung eines weiterentwickelten Kurzzeitkamerasystems / P. Zipfl. - Darmstadt : [s. n.], 1992. - 146 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.136-146

ГРНТИ	УДК
45.31	621.316.37.027.3(043)

Рубрики:
Распределительные устройства (эл.) элегазовые

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18377)

Шифр в сводном ЭК: 6b6005b610ff0195e2b51e8edee04f74

Заказать издание
Заказ фрагмента документа