Полное описание

Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - URL: https://www.iprbookshop.ru/118616.html (дата обращения: 11.04.2023) . - Режим доступа: ЭБС IPR SMART. - ISBN 978-5-7731-0987-7. - Текст : электронный.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

	УДК
	537.533

	ББК
	22.371

Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ -- СПЕКТРОСКОПИЯ -- СТРУКТУРА -- ТВЕРДОЕ ТЕЛО -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп. точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.

Перейти к просмотру издания

Держатели документа:
Цифровой образовательный ресурс IPR SMART : 143405, Московская область, г. Красногорск, ш. Ильинское, д. 1А, помещ. 17,6/ком. 5 (Шифр в БД-источнике (IPRBOOKS): 118616)

Шифр в сводном ЭК: 67cfa72325d8029f7481e16124d6bff5

Просмотр издания ЭБС IPR SMART