Полное описание
>
Li, F. M. CCD image sensors in deep-ultraviolet : degradation behavior and damage mechanisms / F. M. Li, A. Nathan. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - (Microtechnology and mems, ISSN 1615-8326). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b139047. - ISBN 978-3-540-27412-4.
ГРНТИ | УДК | |
47.33.33 | 621.383.8 |
Кл.слова (ненормированные): преобразователи изображений
Доп. точки доступа:
Nathan, A.
SpringerLink (Online service)
>
http://dx.doi.org/10.1007/b139047
Просмотр издания