Полное описание

621.3.049.771.14-/S11-585647
Sachdev, M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2007. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 34). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2. - ISBN 0-387-46547-2.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14-048.24

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Технический контроль

Доп. точки доступа:
Gyvez, J.P.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2

Просмотр издания