Полное описание

621.3.049.771.14:-863141
Tehranipoor, M. Nanometer technology designs high-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2008. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5. - ISBN 978-0-387-75728-5.

ГРНТИ	УДК
47.13.81	621.3.049.771.14:658.562

Кл.слова (ненормированные): большие интегральные схемы -- технический контроль
Доп. точки доступа:
Ahmed, N.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5

Просмотр издания