• ВХОД

    •  

    Полное описание

    621.3.049.771.14/L34-310803
     Larsson, E. Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization / E. Larsson. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2005. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 29). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b135763. - ISBN 978-0-387-25624-5.
    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14

    Рубрики:
    Интегральные схемы большие

    Доп. точки доступа:
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 621.3.049.771.14/L34-310803
    http://dx.doi.org/10.1007/b135763



    Просмотр издания