• ВХОД

    •  

    Полное описание

    620.3/E50-911762
     Emerging nanotechnologies : test, defect tolerance, and reliability / ed. : M. Tehranipoor. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media LLC, 2008. - (Frontiers in electronic testing, ISSN 0929-1296 ; 37). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7. - ISBN 978-0-387-74747-7.
    ГРНТИ УДК
    47.13.11620.3

    Рубрики:
    Нанотехнологии

    Доп. точки доступа:
    Tehranipoor, M.\ed.\
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 620.3/E50-911762
    http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7



    Просмотр издания