Полное описание

620.179.17/A36-018205
Aliev, T. Digital noise monitoring of defect origin / T. Aliev. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media LLC, 2007. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71754-8. - ISBN 978-0-387-71754-8.

ГРНТИ	УДК
81.09.81	620.179.17

Рубрики:
Акустическая дефектоскопия

Доп. точки доступа:
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-71754-8

Просмотр издания