• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Сальникова, И. П. Методы определения электрофизических параметров элементов структур МДП-транзисторов / И. П. Сальникова, В. М. Ивкин, Н. Е. Скляров. - Минск : [б. и.], 1991. - 51 c. : ил. - (Серия 47.13.11, Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и микросхем : обзорная информация / БелНИИНТИ Госэкономплана БССР). - 263 экз. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: с. 46-50 (43 назв.).

    ГРНТИ УДК
    47.33621.382.323.08

    Рубрики:
    МОП-транзисторы -- Параметры -- Измерения

    Кл.слова (ненормированные): ИЗМЕРЕНИЕ -- МОП-ТРАНЗИСТОР -- ПАРАМЕТР
    Доп. точки доступа:
    Ивкин, В.М.
    Скляров, Н.Е.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д7-91/88071)

    Шифр в сводном ЭК: 6009df89ced5f34bead0928baa2ae3fc



    Заказ фрагмента документа ₽