Полное описание
> Основные принципы и методы ускоренных испытаний на надежность радиоэлектронной аппаратуры / А.Н.Явриян,В.Б.Широков,А.Я.Резиновский,В.Л.Чибисов. - М. : Знание, 1993. - 112 с. : ил. - (Качество и надежность изделий / Гос. политехн. музей ; n2(23)). - 100 экз. - ISBN 5-07-002673-9. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.73 (14 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
19.05 | 621.396.6.019.3(023) |
Явриян, А.Н.
Широков, В.Б.
Резиновский, А.Я.
Чибисов, В.Л.
Политехнический музей (Москва)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/46972/2(23))>
Шифр в сводном ЭК: 59f7d296806a434e9b008b4fb757ecc6
Заказ фрагмента документа ₽