Полное описание

539.216.2-022.532/A34-285714
Alford, T. L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2007. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8. - ISBN 978-0-387-29261-8.

ГРНТИ	УДК
29.19	539.216.2-022.532

Кл.слова (ненормированные): наноразмерные пленки -- методы исследования
Доп. точки доступа:
Feldman, L.C.
Mayer, J.W.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-29261-8

Просмотр издания