Полное описание

537.533.35-049.9/T72-742963
Tomitori, M. Applied scanning probe methods ix : characterization / M. Tomitori, H. Fuchs, B. Bhushan. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4. - ISBN 978-3-540-74083-4.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35-049.9

Кл.слова (ненормированные): прикладные сканирующие зондовые методы -- исследование
Доп. точки доступа:
Fuchs, H.
Bhushan, B.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74083-4

Просмотр издания