Полное описание

537.533.35/E28-033361
Egerton, R. F. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b136495. - ISBN 978-0-387-26016-7.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия
Доп. точки доступа:
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/b136495

Просмотр издания