Полное описание

537.533.35/E19-328110
Echlin, P. Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / P. Echlin. - Electronic text data. - Boston, Ma : Springer, 2009. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b100727. - ISBN 978-0-387-85731-2.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35
31.19	543.422.8

Кл.слова (ненормированные): образцы -- подготовка -- сканирующая электронная микроскопия -- рентгеновский микроанализ
Доп. точки доступа:
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/b100727

Просмотр издания