Полное описание

537.533.35/B55-772560
Bhushan, B. Applied scanning probe methods viii : scanning probe microscopy techniques / B. Bhushan, M. Tomitori, H. Fuchs. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008. - (Nano science and technolgy, ISSN 1434-4904). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3. - ISBN 978-3-540-74080-3.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Кл.слова (ненормированные): прикладные сканирующие зондовые методы -- сканирующая зондовая микроскопия
Доп. точки доступа:
Tomitori, M.
Fuchs, H.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3

Просмотр издания