• ВХОД
  •  

    Полное описание

    502.175/K45-567428
    Kim, Y. J. Advanced environmental monitoring / Y. J. Kim, U. Platt. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2008. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6364-0. - ISBN 978-1-402-06364-0.
    ГРНТИ УДК
    87.15.03502.175

    Кл.слова (ненормированные): окружающая среда -- мониторинг
    Доп. точки доступа:
    Platt, U.
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 502.175/K45-567428
    http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6364-0



    Просмотр издания