Полное описание

Чжо Ко Вин. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.27.01 / Чжо Ко Вин. - М., 2013. - 21 с. : ил. - Библиогр.: с. 20-21. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.77:539.16(043)

Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар14-3192)

Шифр в сводном ЭК: 46bf0dc755b6eeeadb2e085802c13fc3

Заказать издание
Заказ фрагмента документа