Полное описание

Egerton, R. F. Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer Science + Business Media Inc., 2005. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b136495. - ISBN 978-0-387-26016-7. - Текст : электронный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа:
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/b136495

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 537.533.35/E28-033361)

Шифр в сводном ЭК: 447cbac82e9e479f5c9b4019e9d8be84

Просмотр издания