Полное описание

Кочаков, В. Д. Основы атомно-силовой наноскопии : учебное пособие / В. Д. Кочаков, А. В. Еремкин. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2010 (Чебоксары). - 55 с. : ил. - Библиогр.: с. 54 (4 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-7677-1482-7. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Чуваш. гос. ун-т им. И. Н. Ульянова.

ГРНТИ	УДК
31.19.03	543.456

Рубрики:
Микроскопия атомно-силовая

Аннотация: Рассмотрены физические основы сканирующей атомно-силовой микроскопии, устройство зондового сканирующего микроскопа. Описаны методы и методики исследований различных характеристик материалов и физических свойств поверхности твердых тел.
Доп. точки доступа:
Еремкин, А.В.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-10/76212)

Шифр в сводном ЭК: 43f9efef8a9c023492fbdc0522bbc5b0

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽