Полное описание

Advanced test methods for srams : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies / A. Bosio [et al.] ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2010. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1. - ISBN 978-1-4419-0938-1. - Текст : электронный.
Рубрики:
Engineering
Computer aided design
Systems engineering
Engineering
Circuits and systems
Computer-Aided engineering (cad, cae) and design

Доп. точки доступа:
Bosio, A.
Dilillo, L.
Girard, P.
Pravossoudovitch, S.
Virazel, A.
SpringerLink (Online service)

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0938-1

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -804401)

Шифр в сводном ЭК: 429a187ea14ea8021148b64a6563d2f8

Просмотр издания