Полное описание

Казанцев, Д. В. Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05 / Д. В. Казанцев. - М., 2006. - 47 с. : ил. - Библиогр.: с. 45-47. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:532.6(043)
47.33	621.315.592.9(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар07-132)

Шифр в сводном ЭК: 3e95384c1c9e3e3c14093cde6628c9d1

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽