Полное описание

Data modeling for metrology and testing in measurement science / Ed. F. Pavese. - Boston, Ma [etc.] : Birkhauser, 2009. - XVII,489 p. : ill. - (Modeling and simulation in science, engineering and technology). - Систем. требования: операц. система Microsoft Windows 2000/ХР/Vista ; процессор Pentium 700 Мгц ; 512 Мб оператив. памяти ; мышь. - Загл. с этикетки диска. - Библиогр. в конце ст. Указ.: с.475-489. - ISBN 978-0-8176-4592-2. - Текст : непосредственный.
Приложение:
Сопроводительный материал :ODM/180 (электрон. опт. диск (CD-ROM)-пнт)
Издание является приложением к документу:
Data modeling for metrology and testing in measurement science. -2009. Шифр J2/27845

ГРНТИ	УДК
90.03	006.91

Рубрики:
Метрология

Доп. точки доступа:
Pavese, F.\ed.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ODM/180)
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27845)

Шифр в сводном ЭК: 3938f5f287200e3897272eaaec049bf7

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽